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颗粒跟踪分析仪相关理论及性能

点击次数:938 发布时间:2017-03-23
颗粒跟踪分析仪理论:
平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率,可以得到zeta电位。
纳米粒子跟踪分析(NTA)和动态光散射(DLS)
所有的光散射仪器,包括粒子跟踪技术,都存在一个问题:当颗粒大小低于100nm时,灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的zui低检测限是0.5nm,对于纳米颗粒跟踪分析,其zui低检测限是10nm。通常,DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS,当样品浓度太低时,颗粒跟踪分析仪可以非常圆满的完成检测任务。相反,对于高浓度的样品,DLS方法会非常的适合。
 
颗粒跟踪分析仪测量范围
测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品,颗粒跟踪技术的检测下限为10nm;相应的,如果样品的散射能力较弱,则检测下限会变得更大。假如样品稳定,不会沉淀或漂浮,zeta电位测量的粒径上限为50微米,对于粒径测量为3微米。
源于视频分析的颗粒计数
颗粒浓度可通过视频分析得到,并归一化处理,散射体积对粒径。可检测的zui小浓度为105粒子/cm3,zui大为1010粒子/cm3。对于200nm的颗粒,zui大体积浓度为1000ppm。
 
颗粒跟踪分析仪特点 - 全自动和无源稳定性
自动校准程序会持续工作,即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均,就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择:粒径,zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个插入式的盒子中,盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。
自动扫描,zui多可达100个子体积;
自动聚焦;
小巧,便于携带;
防震动;
光源从紫外线到红光;
插入式样品池;
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