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新机遇 新挑战---粒度分析讲座邀请

点击次数:1937 发布时间:2012-05-18
“2012 新机遇 新挑战”
颗粒特性分析技术讲座
邀请函


由美国贝克曼库尔特公司主办的、应用专家Matthew N Rhyner  博士主讲的“2012新机遇、新挑战---颗粒特性分析新技术讲座”将于2012 年5月23日上午 9:30 至12:30于中国北京清华大学环境学院举行。诚邀各界人仕参加。
 
           讲座内容:           
                    ☆颗粒特性分析技术概况
                    ☆亚微米高分辨率PIDS技术
                    ☆干粉分散的“ 龙卷风”技术
                    ☆ 库尔特颗粒计数分析技术
                    ☆ 高浓度Zeta电位测量的FST透明电极技术
                    ☆ 固体及薄膜表面ZETA电位测量技术
 

 
贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司
2012年5月18  日
 
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