新机遇 新挑战---粒度分析讲座邀请
点击次数:2993 更新时间:2012-05-18
“2012 新机遇 新挑战”
颗粒特性分析技术讲座
颗粒特性分析技术讲座
邀请函



讲座内容:
☆颗粒特性分析技术概况
☆亚微米高分辨率PIDS技术
☆干粉分散的“ 龙卷风”技术
☆ 库尔特颗粒计数分析技术
☆ 高浓度Zeta电位测量的FST透明电极技术
☆ 固体及薄膜表面ZETA电位测量技术
☆颗粒特性分析技术概况
☆亚微米高分辨率PIDS技术
☆干粉分散的“ 龙卷风”技术
☆ 库尔特颗粒计数分析技术
☆ 高浓度Zeta电位测量的FST透明电极技术
☆ 固体及薄膜表面ZETA电位测量技术
贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司

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